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Sherrill, M. E.*; Abdallah, J. Jr.*; Csanak, G.*; Dodd, E. S.*; 福田 祐仁; 赤羽 温; 青山 誠; 井上 典洋*; 上田 英樹*; 山川 考一; et al.
Physical Review E, 73(6), p.066404_1 - 066404_6, 2006/06
被引用回数:29 パーセンタイル:75.57(Physics, Fluids & Plasmas)電子と原子のキネティクスを連立して解くモデルを用いて、極短パルスレーザー照射Arクラスターから発生したK殼X線スペクトル(He線)の解析を行った。このモデルでは、非平衡電子エネルギー分布関数はPICコードを用いて生成したものを用いた。その結果、X線は極めて非平衡な状態にある高密度プラズマから発生しており、その時間スケールは約5.7psであることがわかった。また、さらに固体密度に近い10cmを超えるイオン密度のクラスタープラズマの生成が可能となった場合には、X線発生のタイムスケールはフェムト秒となることが明らかとなった。
小川 俊英; 三枝 幹雄*; 川島 寿人; 金澤 貞善*; JFT-2Mグループ
Fusion Technology, 39(1T), p.305 - 308, 2001/01
JFT-2Mで行ったバックファラデーシールド付速波アンテナの結合及び加熱実験について報告する。一般にアンテナ-プラズマ間隔()が広がるとともにアンテナ結合抵抗は減少するが、バックファラデーシールド付アンテナでは=5cmのダイバータ配位プラズマに対して10以上の結合抵抗が得られており、同じサイズの従来型ファラデーシールド付アンテナに比べて結合性能は大幅に改善されることを確認した。トロイダル磁場2.2T、平均電子密度110mのプラズマに対して250kWの速波加熱により、軟X線スペクトル測定からプラズマ中心部で0.35keV(T=1.1keV→1.45keV)の電子温度上昇を観測した。550kWまでのパワーレベルでトロイダル電解や粒子シールド効果に起因するアンテナ表面での放電等は発生しておらず耐電圧性能においても顕著な問題は発生してない。
清水 滋; 高橋 史明; 澤畠 忠広*; 當波 弘一*; 菊池 寛*; 村山 卓
JAERI-Tech 99-004, 89 Pages, 1999/02
(X)線用の放射線測定器の性能試験及び校正には、光子エネルギー10keVから300keVの領域において、X線発生装置から発生する連続X線をフィルタでろ過し、エネルギースペクトルを単色化させたX線校正場を使用する。このため、X線校正場の線質条件としては、実効エネルギー、均等度及び線質指標を評価する必要がある。本報告書では、東海研究所放射線標準施設等に設置した校正用X線発生装置のX線校正場の約60線質の設定結果及び各線質の照射線量率、1cm線量当量率、フルエンス率単位のスペクトル分布を明らかにし、並びに照射野の線量・スペクトル分布の一様性及び照射場の散乱線の影響等を明らかにした。これらの結果、X線線質等の詳細な特性データが明らかになり、X線校正場の品質及び校正精度の向上が図れた。
清水 滋; 南 賢太郎
Proc. of an Int. Symp. on Measurement Assurance in Dosimetry, 0, p.649 - 657, 1994/00
各種放射線測定器の特性試験には、光子エネルギー300keV以下の照射にX線発生装置を使用する。X線発生装置によるX線は、連続スペクトルを発生しているため、適当なフィルターでろ過しスペクトルを単色化して放射線測定器の特性試験に利用する。この場合、X線の照射野における線量分布及びエネルギースペクトル分布は、X線の単色化の程度により大きく変化し、照射野の不均一性が生じて個人線量計やサーベイメータ等の照射試験精度に大きく影響を及ぼすことを明らかにした。また、本調査結果から、照射野の水平軸の線量分布とエネルギースペクトル分布が大きく変化することを解明し、照射野の均一分布の範囲を明確にした。
川面 澄; 大塚 昭夫*; 左高 正雄; 小牧 研一郎*; 楢本 洋; 小沢 国夫; 中井 洋太; 藤本 文範*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 262, p.33 - 36, 1987/00
被引用回数:3 パーセンタイル:51.92(Instruments & Instrumentation)原研タンデム加速器を用いて重イオン衝突による放射性電子捕獲(REC)について系統的に実験を行なっている。入射イオンとしては2.0~5.5MeV/amuのF,Si,S及びClイオンを用いた。ターゲットとしてはHeガスを用いた。 REC X線のピークエネルギーは計算値とほぼ一致している。 X線スペクトルの巾については計算値より低い結果となったが、まだ実験精度も十分でないので今後更に研究を進める必要がある。
岡田 実
Journal of Radioanalytical Chemistry, 63(1), p.201 - 204, 1981/00
放射化分析において生成核種のX線に着目して元素の定量を行う場合、KX線に次いでLX線が有用である。そこで、実験によって得られた相対強度の値を、LX線の成分(すなわち、L,L,L,L,L)について文献から集め、4種の強度比(すなわち、L/L,L/L,L/L,L/L)について原子番号依存性を見いだした。Z40であるような領域では、LX線の成分の中ではLが一番優勢である。50≦Z≦90の範囲ではL/L=1.0であり、94≦Z≦100の範囲ではL/L=1.0であり、Z=100の辺りではL/L1.0である。
田島 訓; 平尾 敏雄; 田中 隆一; 田村 直幸
JAERI-M 7891, 50 Pages, 1978/11
大出力X線発生装置を用いて照射された物質中の吸収線量を簡便に評価する目的で、半価層測定、空洞電離箱の壁効果による測定、X線スペクトル測定など種々の方法によってX線の実効エネルギーを求めた。各測定結果の考察を通して実際の照射条件に適合した実効エネルギーは150kvの管電圧に対して95kevと評価された。この値を基にして電離箱、フリッケ線量計、PMMA線量計、CTA線量計などを用いて線量分布の特性を調べるとともに被照射休の種類、大きさ、厚さ、形状などのパラメータを考膚した一般的な吸収線量算出法を見出した。
川面 澄; 小沢 国夫; 藤本 文範*; 寺沢 倫孝*
Phys.Lett.,A, 60(4), p.327 - 329, 1977/04
原研2MV Van de Graff加速器を用いて0.25~2.0MeVのH,He,N,Ne,Arイオン衝撃によるBe及びBeOからのX線発揮スペクトルを結晶分光器を用いて調べた。 得られた結果は次のようになる。(1)BeからのK X線は108.5eV,K,X線(K殻の二重電離)は146.1eVでありHFSによる計算結果とほぼより一致を示す。(2)Be原子のK殻電離機構は軽イオンの場合には直接のクーロン相互作用によって、重イオンの場合には電子昇位モデルによって説明される。(3)BeOの場合には化学結合効果によって低エネルギー側へシフトし、Be-K及びKX線は、それぞれ104.6eV及び143.3eVとなる。エネルギーシフトは各々-4.1eV及び-3.8eVである。(4)それぞれの主線から約11.5eV高エネルギー側にKL及びKLX線が現われる。これは重イオンによる外殻電子の多重電離と電子昇位に基づく内殻電子の電離の増加を通して起こる。そしてこの遷移による電子はO原子の価電子から生じていることがエネルギー準位の計算から示される。